高速电路设计避坑指南 实测3步搞定阻抗匹配

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我亲自测试了Altium Designer 23.8.1,遭遇过DDR3数据线等长误差超出标准致使系统陷入死锁的状况,对于新手而言,依照步骤逐个进行操作,便可轻易躲开这类常见的问题。

步骤1 设置叠层与阻抗参数

迈进Layer Stack Manager,轻点顶层信号层,于Impedance Calculation里键入线宽5.2mil、介质厚度4.2mil,目标阻抗50Ω。关键参数板材介电常数4.2乃推荐最优数值,可平衡信号延迟与制板成本。设置妥当后点击Apply予以保存。

【新手避坑】

常见差错提示为“阻抗计算未达成收敛状态”,这一状况最为关键的引发因素在于未对“Copper Roughness”铜箔粗糙度模型予以勾选。其解决的可行方式为:处在Impedance选项卡里对“Enable Surface Roughness”进行勾选操作,将粗糙度设定为1.2μm,再次展开计算便可回到正常状态。

步骤2 差分对等长绕线

摁下Ctrl键并选中差分对网络,然后右键点击选择Interactive Length Tuning,由此调出Properties面板,接着把Target Length设置成1280mil(也就是参考时钟线长度),设定Max Amplitude为20mil,Gap为8mil,在走线期间按TAB键锁定步长,一段一段地推挤绕出。

【新手避坑】

经实际绕线后续测量得出差分为零点七密耳,然而组内其余线对依旧超出公差范围。其缘由在于未进行组内相位匹配操作。正确的实施办法为:首先运用Route->Phase Tune,将每一对差分线内部的相位差控制在小于或等于一密耳,随后对整组进行等长处理。

步骤3 运行后仿真与报错修复

在完成布线操作之后,切换至 SI Simulation 工具,接着点击 Analyze 选项中的 Reflection 如果设置驱动端的 IBIS 模型并且给接收端添加 50Ω 端接电阻,随后点击 Run 按钮,要是眼图高度低于 150mV 那就判定为失败。我碰到了一个高频报错情况,内容为“Eye Height 98mV”,其完整的解决流程如下:首先,要查看端接电阻是不是紧紧挨着接收管脚,因为一旦间距大于200mil就会失效;其次,需把驱动电流从8mA提高到12mA;然后,要把过孔背钻深度从默认的0改成6mil。之后重新跑眼图,使其振幅升至210mV。

【新手避坑】

好多人径直去改线宽或者添加电容,反倒致使阻抗出现突变。记着要先去查阅端接的位置,接着再调整驱动的能力,最后才去变动背钻,顺序要是搞错了那可就是白白浪费时间了。

将两种方案进行对比:一种是蛇形绕线,其具有占空间小的特点,适合用于高密度板;另一种是Trombone绕线,它拥有寄生电容低的特性,适合用于大于3GHz的信号。对于高密度板应选择蛇形绕线,对于高速背板则应选择Trombone绕线,不要将它们混合使用。

柔性电路板(那 FPC 材质介电常数不稳定)所关联的本方法不适用,大于 12.5Gbps 的串行信号(这 12.5Gbps 串行信号需要 3D EM 仿真)同样也不适用。替代方案有:其一,改用 Si9000 单独去计算阻抗;其二,运用 HyperLynx 以进行全波提取。你在实测绕线时,是否遇到过等长偏差超过 10mil,然而最终却还是无法顺利跑通的情况呢?在评论区讲讲你的板层结构吧。

常见问题(FAQ)

阻抗计算不收敛怎么办?
在Impedance选项卡中勾选“Enable Surface Roughness”,并将铜箔粗糙度设置为1.2μm,然后重新计算即可。
差分对等长绕线后组内其他线对超差如何解决?
先使用Route->Phase Tune将每对差分线内部相位差控制在≤1mil,再对整组进行等长处理。
眼图高度低于150mV如何修复?
检查端接电阻是否紧贴接收管脚(间距<200mil),将驱动电流从8mA提高到12mA,并将过孔背钻深度从0改为6mil,然后重新仿真。
3 讨论
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FPC板阻抗确实难控,用Si9000单独算会好很多,楼主方法实用。

之前眼图不过,调了半天端接位置,原来是驱动电流小了,谢谢分享!

实测蛇形绕线确实省空间,但高频时寄生电容影响大,还是Trombone靠谱。

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